Výsledky vyhledávání - Liu, Johan

  • Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1
Upřesnit hledání
  1. 1
    Obálka

    Reliability of microtechnology : interconnects, devices and systems Autor Liu, Johan, Salmela, Olli, Sarkka, Jussi, Morris, James E., Tegehall, Per-Erik, Andersson, Cristina

    Vydáno: Springer, 2011
    ISBN: 9781441957597
    Umístění:
    Počet nájdených lokácií: 1
    UNIZA
    Kniha

Vyhledávací nástroje: