Výsledky vyhľadávania - Liu, Johan

  • Zobrazené výsledky 1 - 1 z 1
Upresniť hľadanie
  1. 1
    Obálka

    Reliability of microtechnology : interconnects, devices and systems Autor Liu, Johan, Salmela, Olli, Sarkka, Jussi, Morris, James E., Tegehall, Per-Erik, Andersson, Cristina

    Vydavateľské údaje: Springer, 2011
    ISBN: 9781441957597
    Umiestnenie:
    Počet nájdených lokácií: 1
    Univerzitná knižnica Žilinskej univerzity
    Kniha

Vyhľadávacie nástroje: