Obálka

Testing for EMC compliance approaches and techniques

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Montrose, Mark I. (Autor), Nakauchi, Edward M.
Médium: Kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Hoboken, NJ : John Wiley 2004
Témata:
Electromagnetic compatibility
Electromagnetic interference
elektromagnetická kompatibilita
elektromagnetická interferencia
Umístění:
AOSLM